About company
中国科学院北京物质和纳米科学
大型仪器区域中心
管理章程
第一条 北京纳米科学大型仪器区域中心是利用北京地区纳米科技大型仪器比较集中的优势,为促进纳米科技大型仪器的共享,提高大型仪器的使用效率和使用水平,从而促进我国纳米科技的发展而成立的区域性的技术支撑条件合作组织。
第二条 北京纳米科学大型仪器区域中心的目标是建成面向全国的、具有国际先进水平的、开放的纳米科技支撑平台。
第三条 北京纳米科学大型仪器区域中心由中国科学院批准并支持建设,由国家纳米科学中心牵头组织,吸纳北京地区其它具有纳米科技大型仪器的单位参加。
第四条 北京纳米科学大型仪器区域中心建设应充分利用现有的设备与人才基础,避免重复建设,充分发挥各单位的人才优势、资源优势,体现合作、开放的方针。
第五条 北京纳米科学大型仪器区域中心成员单位的用户使用其它成员单位提供的开放共享的大型仪器设备时享有与该单位内部用户平等的权利。
第六条 北京纳米科学大型仪器区域中心成员单位应能够提供纳米科技研发的重要大型仪器设备供其它成员单位和社会各界开放共享,并保证其它成员单位的用户在使用这些设备时享有和本单位内部用户同等的权利。
第七条 申请参加北京纳米科学大型仪器区域中心的基本条件:
1、参加单位愿意承担作为这一合作组织成员相应的义务;
2、参加单位提供的供开放共享的大型仪器设备应具有相应的专业技术支撑人员;
3. 供开放共享的大型仪器设备所在的实验室应具有权威机构认可的或经由其它方式证明了技术能力和管理水平,表明该实验室能够持续地提供可靠的、高质量的技术服务。
第八条 申请参加北京纳米科学大型仪器区域中心的单位应填写《北京纳米科学大型仪器区域中心入网申请表》,由区域中心管理委员会组织专家进行评审。评审通过后,报指导委员会审批,审批通过后由办公室通知申请单位;
第九条 根据纳米科学发展的需要以及成员单位提供的供开放共享的大型仪器的实际运行状况,领导小组可取消成员单位的资格或增加新的成员单位。
第十条 成员单位提供的供开放共享的大型仪器应有明确的、合理的开放共享管理办法。成员单位制定的开放共享管理办法经管理委员会批准后将通过网站向国内(外)用户公示。
第十一条 用户如发现成员单位没有执行管理委员会批准的开放共享管理办法,或对成员单位的技术服务质量有意见,可以向区域中心办公室反应。
第十二条 领导小组对成员单位提供的大型仪器的管理运行和开放共享情况进行年度考核,考核办法由领导小组制定。考核结果报主管部门备案。
第十三条 对于未能尽到成员单位义务,或提供的开放共享的大型仪器管理运行不良的成员单位,视情况将分别给予警告、暂停、取消其成员单位资格等处罚。
第十四条 本办法由北京纳米科学大型仪器区域中心管理委员会负责解释。
大型仪器列表
编号 | 仪器名称 | 仪器型号 | 仪器用途 |
1 | 细胞超微颗粒分析系统(流式细胞仪) | CytoFLEX LX | 流式细胞仪荧光检测,流式细胞仪荧光检测,流式细胞仪-细胞分选 |
2 | 实时荧光定量PCR仪(荧光实时定量PCR仪) | CFX96 | 基因表达研究、转基因食品检测、病原体检测、疾病相关的等位基因点突变检测和SNP检测等实验的分析 |
3 | 凝胶色谱仪GPC(凝胶渗透色谱仪) | 安捷伦 1260 | 分子量测定(流动相六氟异丙醇),分子量测定(流动相水、DMSO、DMF、氯仿等) |
4 | 串联气质联用仪(气相色谱质谱联用仪) | GCMS-8040 | 气质分析,成分及其含量分析 |
5 | 元素分析仪 | Various MACRO | 碳、氢、氮、硫元素含量,有机碳含量 |
6 | 非损伤扫描电极测试仪(非损伤微测系统) | NMT 150-YG | 样品离子/分子流速数据 |
7 | 生物大分子互相作用分析仪 | Octet K2 | 互作动力学常数KD、Kon、Koff测试 |
8 | 自动微生物快速鉴定仪(自动微生物鉴定系统) | GEN III MicroStation | 微生物鉴定 |
9 | 多功能激光加工机 | JHM-2GX-2000W | 激光加工 |
10 | 车削中心 | QT300MA L/650 | 卧式车削加工 |
11 | 立式加工中心 | VCN-510CIIL | 立式铣削加工 |
12 | 氙灯老化箱 | XL-1000 | 氙灯老化箱 |
13 | 水蒸气透过率测定仪 | W3-010 | 水蒸气透过率测定仪 |
14 | 非接触式全场应变测量系统 | MTI-3DHR | 非接触式全场应变测量系统 |
15 | 小角X射线散射仪 | SAXSpace | 小角X射线散射仪 |
16 | 傅里叶变换红外光谱仪 | FT/IR-6800 | 傅里叶变换红外光谱仪 |
17 | 哈克转矩流变仪 | PolyLabOS | 哈克转矩流变仪 |
18 | 微流控生物分析系统 | LabChip GXII Touch | 微流控电泳 |
19 | 高光谱纳米荧光成像系统 | HSI | 纳米材料检测及高光谱分析 |
20 | 电子顺磁共振波谱仪(2018) | EMXplus-9.5/12 | 原位光照实验测试,原位变温实验测试,电子自旋顺磁测试,自由基电化学测试 |
21 | 高精度晶体线切割机 | WSD-2A | 晶体元件切割 |
22 | 超临界流体色谱串联四极杆质谱联用仪 | Acquity UPCC/Xevo TQ-S micro | 液质联用 |
23 | 广角/小角X射线散射结构分析仪(SAXS/WAXS) | Nano-inXider | 室温物相分析,变温物相分析 |
24 | 显微红外光谱仪(SP-200i) | spotlight 200i | 显微红外分析,显微红外分析,显微红外分析,红外光谱测试,显微红外分析 |
25 | 超分辨共聚焦显微镜 | Leica SP8 STED 3X | 超分辨STED,激光共聚焦显微镜观察 |
26 | 电感耦合等离子体质谱 | Thermo iCAP RQ | 元素定量(除CHONF) |
27 | 热重分析仪 | TG 209F3 | 热重分析 |
28 | 原位超高分辨场发射扫描电子显微镜及能谱仪(SEM) | JSM-7800(Prime) | 样品表面形貌扫描,高真空能谱分析 |
29 | X射线单晶衍射仪 | D8 Venture | 单晶衍射仪晶体结构分析 |
30 | 小动物CT/光学成像系统 | Perkins Elmer | 扫描成像,核医学影像,微纳米三维成像,CT成像,内部结构分析,高对比度时高分辨成像(1线对/mm),高对比度时高分辨成像(50线对/mm),CT成像,光学成像 |
31 | 涂膜机 | CEE-200CBX | |
32 | 气质联用仪GCMS-岛津 | GCMS-QP2020 | 气质联用-物质定性定量分析,有机化合物的定性定量分析,物质定性分析 |
33 | 气相色谱质谱联用仪(气质联用仪GCMS) | GCMS QP2010 Ulltra | 气质联用,物质定性分析 |
34 | 和频振动光谱仪 | Astrella-1k-USP | 表界面分子结构(自测),表界面分子结构 |
35 | 双光源X射线单晶衍射仪 | BRUKER D8 VENTURE | 单晶结构分析 |
36 | 比表面积及孔隙度分析仪(Asap2420) | ASAP2420-4 | 固体的比表面积、孔径分布,微孔分析,介孔分析,固体的比表面积、孔径分布 |
37 | 全自动反应量热仪 | RC1e | 反应热、反应比热、反应焓及传热系数 |
38 | 圆偏振荧光光谱仪(CPL-200) | CPL-200 | 圆偏振变温光谱,圆偏振常温光谱 |
39 | 稳态/瞬态荧光光谱仪(Nanolog) | NanoLOG-TCSPC | 上转换荧光测试,低温荧光测试,绝对量子效率测试,荧光寿命测试,荧光光谱测试,荧光测试 |
40 | 600MHz液体核磁共振波谱仪 | AVANCE III HD 600 | 一维套谱1H+13C+DEPT135,DEPT/NOESY/ROESY/TOCSY/HMBC,QC/COSY,液体一维杂核谱,液体一维氢谱,液体一维碳谱,液体二维氢氢相关谱,液体二维碳谱,液体二维NOESY谱,液体二维ROESY谱,二维套谱COSY+HSQC+HMBC,液体谱(氢谱),一维磷谱,液体一维杂核,液体一维氢谱、氟谱、磷谱,液体一维氧谱,液体二维相关谱,一维氢谱压水峰实验,液体谱(氢谱),溶剂峰压制,DEPT/NOESY/ROESY/TOCSY/HMBC,QC/COSY,一维套谱1H+13C+DEPT135,二维套谱COSY+HSQC+HMBC,液体核磁超时测量费用,液体一维杂核谱,液体一维碳谱 |
41 | X射线光电子能谱仪 | ESCALAB 250Xi | X射线光电子能谱-XPS,离子散射谱-ISS,俄歇电子能谱-Auger,紫外光电子能谱-UPS,反射电子能量损失谱-REELS,角分辨光电子能谱-ARXPS,深度剖析-Depth Profiling |
42 | 生物透射电子显微镜HT7700 | HT7700 | 显微分析 |
43 | 单光子激光共聚焦成像系统(Z-760) | Zeiss 710 | 细胞或组织切片荧光显微观察 |
44 | 波长可调谐激光器和光谱测量系统(DQ-NIM) | NIM | 纳米光学成像 |
45 | 纳米位移控制成像系统(DQ-NeaSNOM) | NeaSNOM | 纳米光学成像,纳米光学成像 |
46 | 多通道热膜流场测量系统 | StreamLine Pro | 多通道热膜流场 |
47 | 500兆固体核磁共振波谱仪 | AVANCE Ш HD 500MHz | 固体一维杂核谱,固体一维氢谱,固体一维碳谱,固体二维相关谱,固体二维相关谱,固体一维氢谱,固体一维碳谱,固体核磁超时测量费用 |
48 | 电子探针显微分析仪1720H | 1720H | EPMA表面分析,EPMA表面分析 |
49 | 开尔文探针测试装置 | SKP5050 | 金相、组织、结构分析 |
50 | 时间分辨、原位在线、高真空红外光谱测试装置 | Bruker V70v | 红外光谱测试 |
51 | 可溯源计量型扫描电子显微镜(JC-Zeiss) | Merlin | 形貌成像及测量,形貌成像及测量 |
52 | 全自动程序升温化学吸附仪(AutochemII 2920) | Autochem II 2920 | 比表面积和孔隙度分析,气体吸附 |
53 | 液氮制冷差示扫描量热仪(DSC8500) | DSC 8500 | 固体材料(体、膜、纤维等)热物性测量,模量及玻璃化转变测定,液体热物性测量 |
54 | 生物芯片点样仪(YYL-AD3210) | AD3210 | 生物样品阵列点样 |
55 | 高分辨扫描探针成像与综合物性测量系统(QXH-STM/AFM) | Sustomized VT STM/AFM system | 表面形貌测量,微纳米尺度物性测量 |
56 | X射线计算机断层成像仪[CT/XRM] | Xradia 410 Versa | CT成像,内部结构分析,CT成像,内部结构分析 |
57 | 400MHz核磁共振谱仪(Avance III) | AVANCE III HD 400 | 核磁共振谱,核磁H谱,核磁常规碳谱,核磁超长碳谱 |
58 | 尼康激光共聚焦-结构照明超分辨荧光显微镜 | N-C2-SIM | 共聚焦成像,激光共聚焦扫描成像,结构照明超分辨成像,结构照明超分辨成像,数据处理 |
59 | 磁性测量系统 | MPMS-3 | 磁性测量,磁性材料磁性能分析,磁性材料磁性能分析,磁性材料磁性能分析 |
60 | 圆盘离心式纳米粒度分析仪(GGL-DC24000) | DC24000 UHR | 粒度分析 |
61 | 超声波检测仪 | SAM300 | 无损检测两固体焊接或粘接层中的缺陷 |
62 | 精密测角仪 | PrismMaster HR300 | 任意两个面的夹角、元件塔差 |
63 | 光学轮廓仪 | GT-K | 表面粗糙度、台阶高度 |
64 | 双光子共聚焦/荧光寿命成像显微镜 | ARsiMP-LSM-Kit-Legend Elite-USX | 单光子共聚焦扫描成像,单光子荧光寿命成像,飞秒双光子共聚焦扫描成像 |
65 | 500MHz核磁共振波谱仪 | AVANCE III HD 500 | 化合物结构分析和动力学研究,500兆液体核磁测试,500兆液体核磁测试 |
66 | 宽温域热物性测量系统 | TPS 2500S; Q2000 DSC;BTF-1200C-VP | 材料导热系数测量,材料导热系数测量 |
67 | 扫描电子显微镜(HITACHI S-4300) | S-4300 | 扫描成像 |
68 | 微操作低温探针台-半导体特征参数分析仪 | CRX-4K, 4200-SCS | 介电性能、光学性能,I-V, C-V, Pulsed I-V,直流I-V测试,超快Pulsed I-V测试,电容电压C-V测试,光激发测试 |
69 | 柔性光电器件制备系统(WZX-MB200) | MB200MOD | 物相分离 |
70 | 原位光电器件测试系统(HT-CIMPS-4) | CIMPS-4 | 电化学性质表征,光强度变化瞬态变化测试系统,I-V,C-V测量,标准太阳电池测试,静态、动态光电传输函数测试,动态透射/反射测量,光电化学发射测量,光谱分辨率透射/吸收光谱测量,电化学光电流谱测试 |
71 | 广角/小角X射线散射结构分析仪(WZX-SAXS/WAXS) | XEUSS | 物质的散射和衍射,掠入射广角X射线散射,掠入射广角X射线散射高分辨,物质的散射和衍射 |
72 | 圆二色吸收光谱仪(J-1500) | J-1500 | 圆二色光谱仪常温测试(CD),附件ORCD测试,附件DRCD测试,圆二色变温测试 |
73 | DHR流变仪 | DHR-2 | 流体粘弹性行为测量 |
74 | 电子束蒸发镀膜系统(O-50B) | OHMIKER-50B | 薄膜沉积,薄膜沉积 |
75 | 纳米级力学性能测试试验机(Z-010) | Z010TE | 力学性能 |
76 | 多模式扫描探针显微镜(Bruker-M8) | Bruker Multimode-8 | 显微分析,AFM形貌分析,peakforce力学测量,电磁学性能测量,AFM形貌分析 |
77 | 液相色谱-质谱联用仪 | Q-Exactive | 高分辨ESI质谱,液相色谱-质谱联用,电喷雾(ESI)质谱,高分辨ESI质谱 |
78 | 9.4T高分辨FT-MS质谱仪(物质区域中心) | Solarix 9.4T | 分子量测定 |
79 | 毛细管电泳色谱分析系统 | CE7100 | 样品分离 |
80 | 多功能匀胶烘胶机 | CEE200CBX | 匀胶烘胶 |
81 | 显微分光光度计 | SP2560 Ni-U | 显微分光光度计 |
82 | 磁控溅射镀膜仪 | QPrep 400-BASE | 薄膜沉积 |
83 | 扫描近场光学显微镜 | NTEGRA Solaris,正置和倒置系统 | 扫描近场显微镜 |
84 | 紫外光刻机 | ABM/6/350/NUV/DCCD/M | 光刻 |
85 | 耐压性能测试仪 | HY-SLB-10k-W-N2 | 耐压性能测试 |
86 | 高压吸水率测试仪 | KJYs150 | 高压吸水率测试 |
87 | X射线衍射仪(物质) | Empyrean | XRD,粉末数据收集及数据库查询,XRD晶体衍射分析,原位反应(惰性气体),原位反应(非惰性气体),Ka1系统,粉末数据收集及数据库查询,XRD晶体衍射分析 |
88 | 电子束曝光系统(EBL) | Vistec EBPG 5000plus ES | 微纳米结构制作 |
89 | 超导傅立叶核磁共振波谱仪(纳米区域中心) | AVANCE IIITM 500 MHz | 布鲁克超导傅里叶核磁共振谱仪 |
90 | X射线衍射仪(物质)(XRD) | Smartlab(9) | XRD晶体衍射分析 |
91 | X射线光电子能谱仪(物质) | ESCALAB 250Xi | XPS 表面分析 |
92 | 场发射环境扫描电子显微镜(QUANTA FEG 250) | QUANTA FEG 250 | 显微分析 |
93 | 锕系材料表征分析平台(微介孔物理吸附仪/离子阱质谱仪/电感耦合等离子体发射光谱仪) | ASAP2020HD88 | 比表面积和孔隙度分析,电喷雾(ESI)质谱,ICP光谱分析 |
94 | 微尺度材料与结构光学特性评价系统 | 研制 | 近红外吸收/透过光谱分析 |
95 | 双波长固体连续激光器 | EXLSR-1064-800-CDRH | 薄膜 |
96 | 宽波段可调谐飞秒激光器 | Mai Tai HP +Inspire Auto 100 | 薄膜,激光刻蚀 |
97 | 可调谐飞秒放大激光器 | Spitfire PRO-F1KXP | 薄膜,激光刻蚀 |
98 | 冷场发射双球差校器透射电镜(物质区域中心) | JEM ARM200F | 显微分析 |
99 | 高分辨-高低温-原位测量X射线衍射仪(物质区域中心) | D8 Advance | X射线衍射分析 |
100 | 激光三维加工设备 | Photonic Professional | 曝光 |
101 | 粉末X射线衍射仪(纳米区域中心) | D8 Advance | 粉末X射线衍射,单晶结构分析,热重分析 |
102 | 场发射透射电子显微镜JEM-2100F(纳米区域中心) | JEM-2100F | 透射电子显微镜JEM–2100F |
103 | 超快时间分辨X射线衍射系统(物质区域中心) | 研制 | 超快XRD测试 |
104 | 纳米薄膜表征平台(红外/热重/紫外近红外/I-V测试/AFM) | iN10-IZ10/Q50/Cary5000/Keithley 4200/Dimension Edge | 红外光谱测试 |
105 | 6300电子束曝光设备 | JBX-6300FS | 曝光 |
106 | 聚集离子束/电子束双束Helios 600I 系统 | Helios 600I | 结构加工 |
107 | X射线衍射仪P3(纳米区域中心) | Empyrean | 粉末数据收集及数据库查询 |
108 | X射线衍射仪P2(纳米区域中心) | Empyrean | 粉末数据收集及数据库查询 |
109 | 电感耦合等离子体质谱仪(GGL-ICP-MS) | NexION 300X | 痕量元素定量分析,元素形态分析 |
110 | 核磁共振微成像谱仪 Bruker AVIII 500WB(纳米区域中心) | AVANCE III 500WB | 扩散系数核磁测定,500兆液体核磁测试,核磁微成像分析,扩散序谱,液体二维NOESY谱,液体二维氢氢相关谱,液体二维氢氢全相关谱,液体二维变温氢氢相关谱,液体氢碳直接相关谱,一维选择性激发谱,液体一维杂核谱,液体一维碳谱,液体一维变温氢谱,液体一维变温碳谱,液体一维变温杂核谱,液体氢碳远程相关谱,液体一维氢谱,核磁微成像分析 |
111 | 多功能光电子能谱仪(分子器件研究平台) | AXIS ULTRA DLD | 多功能光电子能谱仪(分子器件平台) |
112 | 扫描电子显微镜(HITACHI S-4800) | S-4800 | 扫描成像,显微分析 |
113 | 小动物核磁共振成像仪(BS-70) | BioSpec70/20USR | 小动物核磁成像 |
114 | 冷冻组织切片机(CM-1950) | CM1950 | 低温超薄切片 |
115 | 超薄切片机(UC-7) | UC7 | 低温超薄切片,常温超薄切片 |
116 | 单光子发射计算机断层扫面(SPECT/CT) | Triumph X-SPECT/X-O CT | CT扫描,数据处理 |
117 | 多光束激光共聚焦成像系统(U-Vox) | UltraVIEW VoX | 细胞或组织切片荧光显微观察 |
118 | 多功能气溶胶粒度分析仪(Cell) | whole body&nose only&cell culture | 基因表达的差异分析 |
119 | 120KV透射电子显微镜(Ht-7700) | HT7700 | 显微分析 |
120 | 双面对准接触式紫外光刻机(Ma-6) | MA6 | 微纳米结构制作 |
121 | 热场发射高分辨扫描电镜(N-430) | NOVA Nano SEM 430 +EDS | 表面形貌测量,元素成分分析,低真空扫描电镜成像 |
122 | 高密度等离子体增强化学气相沉积设备(ICP-CVD) | SI500 | 薄膜沉积 |
123 | 磁控溅射镀膜系统(Lab-18) | Lab 18 | 薄膜沉积 |
124 | 金属高密度等离子体刻蚀机(ICPRIE-500) | SENTECH PTSA ICP-RIE ETCHER SI 500 | 刻蚀 |
125 | 硅刻蚀高密度等离子体刻蚀机(ICPRIE-180) | Oxford Plasmalab System100 ICP180 | 刻蚀 |
126 | 圆二色光谱仪 | J-815 | 圆二色光谱变温测试 |
127 | 宏量制备高效液相色谱(纳米区域中心) | NEXT-800型+Buchyprep-M+非标辅助设备 | 宏量制备高效液相色谱 |
128 | 连续式金属富勒烯制备设备(纳米区域中心) | 非标 | 连续式金属富勒烯制备设备 |
129 | 粒子成像测速系统(物质区域中心) | FlowMaster | 激光扫描共聚焦显微镜(LSCM)变温测试,三维速度场测量,燃烧场流场测量,力学性能测试 |
130 | 多普勒粒度分析仪(物质区域中心) | Fiber PDA | 单点速度测量,粒度分析,燃烧场流场测量 |
131 | 三维激光多普勒测速仪(物质区域中心) | FlowLite | 粒度分析,燃烧场流场测量,单点速度测量,雾化颗粒度分析,单点三维速度测量 |
132 | 动态光散射粒度仪(生化) | NANO ZS | 粒径测定 |
133 | 超高效液相色谱质谱联用仪(物质) | UPLC H-Class/xevo G2-S TOF | 液质联用 |
134 | 石英晶体微天平 | Q-SENSE E4 | 生物分子相互作用 |
135 | 高分辨场发射透射电子显微镜 | JEM-2100F | 场发射透射电镜显微分析 |
136 | 多色高速流式细胞分选仪(生化) | MoFlo XDP | 流式细胞分选仪-细胞、颗粒、细胞分选 |
137 | 热重-差热分析仪(TG/DTA )按个数收费 | TG-DTA6300 | 热重分析,热重红外联用 |
138 | 600MHz核磁共振(生化) | AVANCE III | 液体一维氢谱,液体一维碳谱,二维谱HSQC |
139 | X射线荧光光谱仪(多相XRF) | AXIOS | 粉末X荧光半定量分析,XRF制样压片 |
140 | 热场发射扫描电子显微镜与能谱分析仪(多相颗粒分中心) | JSM-7001F+INCA X-MAX | 高真空能谱分析,表面形貌扫描,电镜样品喷金,电镜样品制备喷碳 |
141 | 热重-质谱联用仪(物质区域中心) | 自开发 | 热重分析 |
142 | 扫描探针显微镜Bruker | Bruker Multimode 8 | 表面形貌测量 |
143 | 激光扫描共聚焦显微镜 | A1R MP | 激光共聚焦显微镜(CLSM)测试 |
144 | 激光扫描拉曼显微镜 | Raman-11 | 拉曼光谱分析 |
145 | X射线衍射仪(TZY-Xrd) | D/MAX-TTRIII(CBO) | 物相分析 |
146 | X射线光电子能谱仪(XPS) | ESCALAB250Xi | XPS表面分析 |
147 | 场发射环境扫描电子显微镜微操纵加工系统(HD-Q-200) | Quanta 200 FEG | 低真空扫描电镜成像,环境扫描条件成像,电子束曝光,高真空扫描电镜成像,纳米微操纵仪 |
148 | 多功能活体成像系统(生化) | KODAK In-Vivo Imaging System FX Pro | 多功能活体成像系统 |
149 | GPU超级计算系统 | Mole-8.5 | 超算分析-CPU,超算分析-GPU |
150 | 物理化学吸附仪(BET TPR比表面孔径分布化学吸附) | NOVA3200e and iQ | 孔分布,比表面分析,比表面积和孔隙度分析,静态化学吸附,固体的比表面积、孔径分布 |
151 | Bruker原子力显微镜(生化) | FASTSCANBIO | 原子力样品表面形貌扫描,样品表面性质分析 |
152 | 700MHz液体核磁共振谱仪(物质) | AVANCE III | 固体一维氢谱,ROESY,一维选择性激发谱,液体一维碳谱,DEPT90,DEPT135,液体一维19F 谱,一维套谱1H+13C+DEPT135,DOSY扩散序谱,HSQC(HMQC),HMBC,杂核一维谱图,DEPT90,DEPT135,液体一维氢谱,弛豫时间的测定,DEPT90,DEPT135,二维H-H COSY,TOCSY,前处理,液体一维杂核,杂核一维谱图,DEPT135,一维氢谱压水峰实验,液体一维氧谱,一维磷谱,NOESY/ROESY,DEPT/NOESY/ROESY/TOCSY/HMBC |
153 | 液质联用LCMS/ESI/QTOF | UPLC-QTOF | 液-质联用分析,电喷雾质谱分析,电喷雾质谱分析,电喷雾质谱分析,UPLC定量分析,UPLC定量分析,电喷雾质谱分析,电喷雾(ESI)质谱,质谱解析/二级质谱解析,电喷雾质谱分子量检测,质谱解析/二级质谱解析,液质联用,UPLC定量分析 |
154 | 电感耦合等离子体光谱仪icp-oes(物质) | iCAP 6300 | ICP光谱10元素分析,ICP光谱7元素分析,ICP光谱13元素以上分析,ICP光谱11元素分析,ICP光谱12元素分析,ICP光谱9元素分析,ICP光谱8元素分析,ICP光谱1元素分析,ICP光谱2元素分析,ICP光谱3元素分析,ICP光谱4元素分析,icp-oes数据分析,icp光谱分析标液,ICP光谱6元素分析,ICP光谱5元素分析 |
155 | 液相色谱-质谱联用仪(纳米区域平台) | Bruker micrOTOFQ-II | 液质联用 |
156 | 生物型原子力显微镜(纳米区域中心) | Agilent 5500 | 磁性材料成像,表面形貌测试,活细胞表面形貌,液体环境中成像,分子识别 |
157 | 荧光分光光度计(纳米区域中心) | RF-5301PC | 荧光光谱测试 |
158 | 分子荧光光谱仪 Spectrofluometer(纳米区域中心) | Fluorolog-3 FL3-21 | 定量分析,构象变化 |
159 | 等电聚焦电泳仪(纳米区域中心) | PROTEAN IEF cell | 蛋白等电点及/或分子量的差异分析 |
160 | 离子束刻蚀系统 | LKJ-3D-150 | 金相、组织、结构分析 |
161 | 光谱椭偏仪(SE-850) | SE 850 DUV | 薄膜光学参数测量 |
162 | X射线微米CT(物质区域中心) | Mirco-CT200 | CT成像,内部结构分析 |
163 | 氦液化装置(物质区域中心) | L70 | |
164 | 矿物解离分析仪(MLA)(物质区域中心) | FEI MLA 250 | 镶嵌,MLA测试,电镜低真空扫描模式,电镜高真空扫描模式,电镜环境扫描模式,能谱分析,低真空能谱分析,磨抛,高真空能谱分析,电镜样品喷金,电镜样品制备喷碳,喷金 |
165 | X荧光光谱仪XRF(物质) | AXIOS | 粉末X荧光半定量分析,固体X荧光半定量分析,XRF样品制备压片,XRF液体样品分析,XRF制样压片 |
166 | 激光共聚焦显微镜[Leica] | Leica TCS SP 5 | 样品表面原子力成像,样品表面形貌扫描,激光共聚焦显微镜观察,原子力显微镜样品表面观察,样品表面原子力成像,激光共聚焦显微镜观察 |
167 | 细胞分析系统(流式细胞仪) | CyAn ADP | 流式细胞仪荧光检测,流式细胞仪-细胞分选 |
168 | 冷场发射扫描电子显微镜 | JSM-6700F | 样品断面离子抛光,样品表面形貌扫描,样品表面形貌扫描,扫描电镜样品前期处理,样品断面离子抛光 |
169 | 圆二色光谱仪 | JASCO J-810 | 蛋白质二级结构分析 |
170 | 日立S-4800扫描电子显微镜(纳米区域中心) | s-4800 | 样品表面形态及结构分析 |
171 | 等离子体增强化学气相沉积系统(纳米区域中心) | System100 PECVD System | 薄膜沉积 |
172 | UltimaIV型粉末X射线衍射仪(物质区域中心) | UltimaIV | 晶体结构 |
173 | 裂解器、气相色谱-质谱联用仪(纳米区域中心) | GCMS-QP2010 | 气相色谱质谱仪, 裂解器 |
174 | 差示扫描量热仪(物质区域中心) | DSC6220 | 吸放热分析 |
175 | 小动物正电子发射断层扫描仪(物质区域中心) | Eplus-166 | 核医学影像 |
176 | 生物大分子系统1W2B(物质区域中心) | 非标 | 晶体形态的生物大分子 |
177 | 生物大分子系统3W1A(物质区域中心) | 非标 | 晶体结构 |
178 | 同步热分析仪Q600(物质区域中心) | Q600 | 同步热分析仪Q600,同步热分析仪Q600,同步热分析仪Q600 |
179 | 高温力学性能测试仪(物质区域中心) | instron5567 | 力学性能测试 |
180 | 高效毛细管电泳仪(纳米区域中心) | 1229 | 光活性化合物e.e.值的测定,物质含量 |
181 | 微透析取样(纳米区域中心) | BAS | 产品性能分析,溶解待测样品,自由基电化学检测 |
182 | Autolab电化学工作站(纳米区域中心) | PGSTA302 | 电化学工作站分析项目,电化学工作站分析项目 |
183 | 电子束蒸发镀膜仪(Boc-500) | BOC-500 | 薄膜沉积,薄膜 |
184 | 液质联用仪(物质区域中心) | LCMS2010 | ESI直接进样,电喷雾(ESI)质谱,液质联用 |
185 | LIGA和光刻系统(物质区域中心) | 非标 | X射线及紫外光曝光 |
186 | X射线荧光分析系统(物质区域中心) | 非标 | 4W1B |
187 | X射线漫散射线系统(物质区域中心) | 非标 | 1W1A漫散射实验站 |
188 | 高压Raman系统(物质区域中心) | 非标 | 高压拉曼实验方法 |
189 | 高压X射线衍射系统(物质区域中心)(2014年修购) | 非标 | 高压衍射分析方法 |
190 | 软X射线光学系统(物质区域中心) | BSRF-4B7B-RM | 平面镜标定,XRD响应标定,样品内部形态及结构分析,滤片透过率标定,样品表面形态及结构分析 |
191 | 中能X射线谱学系统(物质区域中心) | 研制 | XRD响应标定,样品内部形态及结构分析,滤片透过率标定,样品表面形态及结构分析 |
192 | 康塔全自动物理化学吸附仪(物质区域中心) | AUTOSORB-1-C-TCD | 静态化学吸附,动态化学吸附,BET比表面积,固体的比表面积、孔径分布,微孔分析 |
193 | 常规正电子湮没多参数符合测量系统CDB(物质区域中心) | 非标 | 样品内部形态及结构分析 |
194 | 常规正电子湮没寿命谱仪(物质区域中心) | 非标 | 样品内部形态及结构分析 |
195 | 慢正电子束流装置(物质区域中心) | 非标 | 多普勒展宽谱,多普勒展宽谱,薄膜,符合多普勒 |
196 | 光散射系列 | Dybapro NanoStar;OPTILAB rEX; HELEOSII | 动态光散射仪 |
197 | 反应等离子体刻蚀机(RIE-200) | ETCHLAB 200 | 刻蚀 |
198 | 单面对准紫外光刻机(Mjb-4) | MJB4 | 微纳米结构制作, 纳米光学成像 |
199 | 短周期涡轮实验台(物质区域中心) | 自研制 | 力学性能测试 |
200 | 全光谱激光扫描共聚焦显微镜 | Nikon c1 Si | 大尺寸工件任意断层、透视成像,激光共聚焦扫描成像 |
201 | 比表面及孔隙度分析仪 | Quadrasorb SI-MP | 固体的比表面积、孔径分布 |
202 | 纳米光子学超细微加工系统 | 研制 | 刻蚀 |
203 | 材料低温热物性测量装置 | 研制 | 热输运测量(热导率、seebeck系数、品质因子) |
204 | 0.65K~24.5561K 温度计标准装置 | LHE3 | 温度试验 |
205 | 13.8033K~273.16K温度计标准装置 | LHE4 | 温度试验 |
206 | 低温环境模拟测试装置 | 研制 | 环境模拟,环境模拟 |
207 | 显微共焦激光拉曼光谱仪 | inVia-Reflex | 拉曼光谱分析 |
208 | 紫外-可见-近红外分光光度计 | Cary 5000 | 紫外可见近红外分析 |
209 | 电感耦合等离子体发射光谱仪 | Varian 710-OES | ICP光谱分析 |
210 | 傅里叶变换红外光谱仪 | Excalibur 3100 | 红外光谱测试,中红外单次衰减全反射测试(ATR) |
211 | 变温电子顺磁共振波谱仪 | E 500 | 自由基电化学检测,电子自旋顺磁检测 |
212 | 场发射扫描电子显微镜-6700F(纳米区域中心) | JSM-6700F | 场发射扫描电子显微镜 ,样品表面形态及结构分析 |
213 | 酶标仪(纳米区域中心) | SpectraMax M5 | 酶联免疫吸附检测,紫外可见光谱,紫外可见光吸收/透过分析,荧光光谱测试 |
214 | 冷场发射扫描电镜(纳米区域中心) | JEOL JSM-6701F | 表面形貌测量,元素成分分析,显微分析,显微分析 |
215 | 超导核磁共振波谱仪 | Avance-400 | 液体一维氢谱,液体一维碳谱,液体二维氢氢相关谱,液体二维ROESY谱,液体一维氢谱,液体一维碳谱,液体二维氢氢相关谱,液体二维ROESY谱 |
216 | 飞秒掺钛蓝宝石脉冲激光器 | SP-5W | LD光谱测试,近红外吸收/透过光谱分析,红外光谱测试,紫外可见光吸收/透过分析,荧光光谱测试 |
217 | “廊坊园区”-时间分辨荧光光谱仪(荧光寿命) | F900 | 荧光光谱测试 |
218 | “廊坊园区”-激光闪光光解光谱仪(瞬态吸收) | LP920 | 紫外可见光吸收/透过分析 |
219 | 透射电子显微镜(JEM-2100) | JEM-2100 | 显微分析,扫描成像 |
220 | 激光解吸飞行时间质谱仪(Microflex) | Microflex | 飞行时间质谱 |
221 | 高能所试验束装置 | IHEP-BTF | |
222 | 真空紫外实验系统(物质区域中心) | 研制 | 荧光光谱测试,园二色光谱仪常温测试(CD),反射光谱,透射光谱 |
223 | 225KV X射线显微CT(物质区域中心) | 225-3D-uCT | CT三维重构,CT缺陷分析,CT逆向工程分析,CT成像,内部结构分析,CT尺寸测量 |
224 | 高能工业CT无损检测系统(GY-6-ACT)(物质区域中心) | 研制 | CT缺陷分析,CT尺寸测量,CT逆向工程分析,CT三维重构,CT结构分析 |
225 | 450KV工业CT无损检测系统(GY-450-ICT)(物质区域中心) | 研制 | CT尺寸测量,CT逆向工程分析,CT缺陷分析,CT三维重构,CT结构分析 |
226 | 微型流化床反应动力学分析仪(物质区域中心) | MFBRA | 热分析(动力学分析) |
227 | 过程质谱仪(物质区域中心) | PROLINE | 气体成分分析,气体成分分析 |
228 | 纳米粒度与Zeta电位分析仪(物质) | DelsaNano C | 粒度,zeta电位,纳米粒度或Zeta电位,zeta电位 |
229 | 电感耦合等离子体原子发射光谱仪(物质) | Optima 5300DV | ICP光谱3-5元素分析,ICP光谱7元素分析,ICP光谱10元素分析,ICP光谱12元素分析,ICP光谱全元素分析,ICP光谱6元素分析,ICP光谱8元素分析,ICP光谱11元素分析,ICP光谱9元素分析,ICP光谱13元素以上分析,ICP光谱1-2元素分析,ICP光谱2元素分析,ICP光谱13元素分析,ICP光谱14元素分析,ICP光谱15元素以上分析,ICP光谱1元素分析,ICP光谱3元素分析,ICP光谱4元素分析,ICP光谱5元素分析,ICP光谱15元素分析 |
230 | X射线微纳米成像系统(物质区域中心) | 非标 | 微纳米三维成像 |
231 | 光电子能谱系统(物质区域中心) | 非标 | XPS表面分析 |
232 | X射线吸收谱学系统(物质区域中心) | 非标 | 束线状态维护,样品内部形态及结构分析 |
233 | 小角X射线散射系统(物质区域中心) | 研制 | 同步辐射小角散射 |
234 | X射线衍射系统(物质区域中心) | 非标 | 结构解析 |
235 | 六硼化镧透射电子显微镜(纳米区域中心) | JEM-2100(UHR) | 显微分析,晶体结构,元素成分分析 |
236 | 物理吸附仪-BET-比表面 | AUTOSORB-IQ-XR-C | BET比表面积,比表面分析,介孔分析,微孔分析,比表面分析 |
237 | 综合热分析仪(物质) | STA449C | 热重分析,吸放热分析,热重红外联用,TGA/DSC小于900度分析 |
238 | X射线衍射仪(颗粒) | X’Pert PRO MPD 大厦124 | 粉末数据收集及数据库查询,XRD晶体衍射分析 |
239 | 激光粒度分析仪(物质区域中心) | Mastersizer 2000 | 粒度分析 |
240 | 电子束蒸发系统-LMF | Peva-600E | 薄膜沉积 |
241 | 多组份气体分析仪(物质区域中心) | DX4000 | 气体成分分析,烟气分析 |
242 | 谐波法微尺度材料导热测量仪(物质区域中心) | 自研制 | 液体热物性测量,固体材料(体、膜、纤维等)热物性测量,TGA/DSC分析,块体材料热物性测量,液体、粉体热物性测量,薄膜热物性测量,纤维热物性测量 |
243 | 飞秒激光热反射薄膜导热测量仪(物质区域中心) | 自研制 | 飞秒级超快热过程测量,液体热导率测量,固体热导率测量,界面热阻/界面热导测量 |
244 | X射线衍射仪 | D8 focus | 晶体结构 |
245 | 物理性能测量系统(PPMS-9) | PPMS-9 | 直流磁化强度(VSM测量),热输运测量-2端法,直流电阻测量,交流磁化率,比热测量,高温VSM测量2,交流磁化率2,交流电输运测量 |
246 | 气相色谱/高分辨飞行时间质谱联用仪(GCT Premier ) | GCT Premier | 高分辨EI,飞行时间质谱,气质联用,低分辨EI质谱, 高分辨质谱 |
247 | 透射电子显微镜(JEM-2100F) | JEM-2100F | 显微分析 |
248 | 单色仪(物质区域中心) | SpectraPro-500i | 近红外吸收/透过光谱分析,紫外可见光吸收/透过分析,紫外可见光吸收/透过分析, |
249 | 连续波钛宝石激光器(物质区域中心) | 3900S | 薄膜,晶体结构,荧光光谱测试 |
250 | 高分辨透射电子显微镜(物质区域中心) | JEM2100PLUS | 晶体结构 |
251 | 场发射扫描电镜(物质区域中心) | XL30 S-FEG | 晶体结构 |
252 | 飞秒掺钛宝石激光器(物质区域中心) | TSA-10 | 薄膜,飞秒量级超快热过程测量 |
253 | 皮秒Nd:YAG脉冲激光器(物质区域中心) | PL2143B | 晶体结构,荧光光谱测试 |
254 | 磁性测量系统(物质区域中心) | MPMS XL-7 | 低温物性分析,磁性材料磁性能分析,室温介电常数、磁导率及损耗 |
255 | 18KW转靶X射线衍射仪(物质区域中心) | M18XHF | 粉末数据收集及数据库查询 |
256 | X射线衍射仪(物质区域中心) | PDPW3040/60 | 粉末数据收集及数据库查询 |
257 | C楼电感耦合等离子体刻蚀系统 | Plasmalab System 100 ICP180 | 刻蚀 |
258 | 真空镀膜机 | RZF400 | 薄膜沉积 |
259 | 原子层沉积系统 | Savannah-100 | 薄膜沉积 |
260 | 台阶仪 | Dektak XT | 表面形貌测量 |
261 | C楼反应离子刻蚀系统 | Plasmalab 80 plus | 刻蚀 |
262 | 亚微米紫外光刻掩模对准系统 | MA6 | 曝光 |
263 | 聚焦离子束DB235系统 | Strata DB 235 | 结构加工 |
264 | 电子束曝光系统 | Raith 150 | 曝光 |
265 | SPEX-1403双光栅拉曼光谱仪(物质区域中心) | SPEX-1403 | 拉曼光谱分析, 荧光光谱测试 |
266 | TU-1901双光束紫外可见分光光度计(物质区域中心) | TU-1901 | 紫外可见光吸收/透过分析 |
267 | IRIS Intrepid II全谱直读等离子体光谱仪(物质区域中心) | IRIS Intrepid II | ICP光谱分析 |
268 | FTS-60V双真空傅里叶变换红外(FT-IR)光谱仪系统(物质区域中心) | FTS-60V | 红外光谱测试 |
269 | HR-800高分辨单级拉曼光谱仪(物质区域中心) | HR-800 | 荧光光谱测试, 拉曼光谱分析 |
270 | JY-T64000模块式三级拉曼光谱仪系统(物质区域中心) | JY-T64000 | 拉曼光谱分析, 比热测量 |
271 | 气相色谱质谱联用(纳米区域中心) | SATURN2000 | 气质联用, 有机化合物定量分析 |
272 | 激光共聚焦(confocal)显微镜细胞实时成像系统(尼康荧光显微镜+ UltraVIEW VoX共聚焦单元)(纳米区域中心) | Nikon- Ti + UltraVIEW VoX | 显微分析,激光共聚焦显微镜(CLSM)测试,ROI图象区域分析,显微分析 |
273 | 高效液相- 电感耦合等离子质谱体联用仪(纳米区域中心) | Thermo-X7 | 化学元素定量分析 |
274 | 碳纳米材料合成真空装置(纳米区域中心) | 加工 | 材料合成 |
275 | 酶标仪(纳米区域中心) | SpectraMax M2 | 酶联免疫吸附检测 |
276 | 荧光倒置显微镜(纳米区域中心) | Olypus IX71 | 显微分析 |
277 | 激光解析飞行时间质谱(纳米区域中心) | UltrafleXtreme | 分子量测定 |
278 | 分选型流式细胞仪(纳米区域中心) | ARIAIII | 电泳条带分析 |
279 | 高效液相色谱仪平台(纳米区域中心) | LC-9104 | 富勒烯分离 |
280 | 傅立叶红外光谱仪6700(物质区域中心) | 6700FTIR | 红外光谱测试, 红外光谱测试 |
281 | 纳米粒度和ZETA电位分析仪(纳米区域中心) | Zetasizer Nano ZS ZEN3600 | 纳米粒度或Zeta电位, 激光光散射仪 |
282 | 钨灯丝扫描电子显微镜(S-3400) | Hitachi S-3400N | 表面形貌测量 |
283 | 机械制冷差示扫描量热仪(Diamond DSC) | Diamond DSC | 模量及玻璃化转变测定,液体热物性测量,固体材料(体、膜、纤维等)热物性测量,吸放热分析 |
284 | 单站全自动微孔比表面积和孔隙度分析仪(Asap-2020 | ASAP2020(M+C) | 固体的比表面积、孔径分布 |
285 | 差热/热重综合分析仪(TG/DTA) | Diamond TG/DTA | 固体材料(体、膜、纤维等)热物性测量,液体热物性测量,热重分析,吸放热分析 |
286 | 纳米粒度及Zeta电位分析仪(NZS) | Zetasizer Nano ZS | 纳米粒度或Zeta电位, 粒度分析 |
287 | 多模式扫描探针显微镜(M-Pico) | Multimode | AFM形貌分析, 形貌成像及测量 |
288 | 六硼化镧透射电子显微镜(T-20) | Tecnai G2 20 S-TWIN | 显微分析 |
289 | 傅立叶变换红外光谱仪(S-One) | Spectrum One | 紫外可见光吸收/透过分析,红外光谱测试,红外光谱通用附件,红外光谱通用附件,衰减全反射附件-HATR |
290 | 紫外/可见/近红外分光光度计(Lambda-950) | Lambda 950 | 紫外可见近红外分析,紫外光谱通用附件,紫外积分球测漫反射附件 |
291 | 半导体特性测试系统(Scs-4200) | 4200-SCS | I-V,C-V测量,IV+低温探针台 |
292 | 激光拉曼光谱仪(Renishaw) | Renishaw inVia plus | 拉曼光谱分析 |
293 | 扫描探针显微镜AFM2(纳米区域中心) | Ⅲa | 样品表面形态及结构分析,扫描探针显微镜AFM |
294 | 电子顺磁共振仪(纳米区域中心) | ESP-300 | 电子自旋顺磁检测, 自由基电化学检测 |
295 | 液体核磁共振波谱仪 Avance300(纳米区域中心) | Avance300 | 电子自旋顺磁检测,液体一维氢谱,液体一维碳谱,液体二维氢氢相关谱,液体一维氢谱,液体一维碳谱,液体二维氢氢相关谱 |
296 | 磁控溅射镀膜仪(Acs-4000) | ACS-4000-C4 | 薄膜 |
297 | 单晶衍射仪固定靶(单晶-2物质区域中心) | ST Saturn724+ | 单晶结构分析 |
298 | 微波介电常数与磁导率测试系统(物质区域中心) | 主机E8363B 40M-40GHz | 室温介电常数、磁导率及损耗,高温介电常数、磁导率及损耗 |
299 | 扫描电子/聚焦离子束双束系统(SEM/FIB) | Nova200 NanoLab | 聚焦离子束加工,表面形貌测量,扫描电镜表面形貌测量,电子束曝光 |
300 | 场发射透射电子显微镜(F-20) | Tecnai G2 F20 U-TWIN | 晶体结构,显微分析,元素成分分析 |
301 | 冷场发射扫描电子显微镜(S-4800) | Hitachi S4800+EDS | 表面形貌测量,元素成分分析,形貌成像及测量 |
302 | 高分辨双聚焦质谱系统(FD-MS)(物质区域中心) | DFS | 分子量测定,高分辨EI,场解析质谱 |
303 | 液相色谱质谱联用仪(纳米区域中心) | Q-TOF | 电喷雾(ESI)质谱,液质联用 |
304 | 气相色谱质谱联用仪(物质区域中心) | QP2010 | 气质联用,低分辨EI质谱 |
305 | 气相色谱质谱联用仪(纳米区域中心) | GCT | 低分辨EI质谱,高分辨质谱 |
306 | 飞行时间质谱仪(纳米区域中心) | Autoflex III | 飞行时间质谱,MALDI-TOF质谱测试 |
307 | 凝胶渗透色谱仪(THF) (物质区域中心) | 1515 | GPC凝胶渗透色谱仪,凝胶渗透色谱(THF),分子量测定 |
308 | 元素分析仪(物质区域中心) | Flash EA 1112 | S元素含量测定,Cl(Br)元素含量测定,粘稠状样品CHN元素分析,固体样品CHN元素分析,O元素分析测定 |
309 | 透射电子显微镜JEM-1011(物质区域中心) | JEM-1011 | 透射电子显微镜JEM-1011 |
310 | 场发射扫描电子显微镜S-4800(物质区域中心) | S-4800 | 扫描电子显微镜S-4800 |
311 | 透射电子显微镜JEM-2010(纳米区域中心) | JEM-2010 | 透射电子显微镜JEM-2011 |
312 | 场发射扫描电子显微镜S-4300(纳米区域中心) | S-4300 | 扫描电子显微镜S-4300 |
313 | 激光共聚焦显微镜(物质区域中心) | OLYMPUS FV1000-IX81 | 激光扫描共聚焦显微镜(CLSM)常温测试,荧光显微CCD测试 |
314 | 圆二色光谱仪(CD)(纳米区域中心) | J-815 | 圆二色光谱仪常温测试(CD),圆二色光谱常温测试 |
315 | 傅立叶红外光谱仪(纳米区域中心) | TENSOR-27 | 中红外单次衰减全反射测试(ATR),红外光谱测试,中红外漫反射测试,中红外漫反射测试,红外光谱测试 |
316 | 纳米压印机(Hex-1) | HEX-01 | 微纳米结构制作 |
317 | 荧光光谱仪(物质区域中心) | F-4500 | 荧光光谱测试 |
318 | 光电子能谱仪(纳米区域中心) | ESCALab220i-XL | XPS表面分析,XPS表面分析 |
319 | 单晶衍射仪007HF(单晶-3物质区域中心) | MM007HF Saturn724+ | 单晶结构分析 |
320 | 液体核磁共振波谱仪 DMX300(物质区域中心) | Bruker DMX300 | 液体一维升温碳谱,液体一维氢谱,液体一维碳谱,液体一维杂核谱,液体一维升温杂核,液体一维升温氢谱,常规核磁测试,升温核磁测试,液体一维氢谱,液体一维碳谱,液体一维杂核谱,液体一维氢谱 |
321 | 液体核磁共振波谱仪 AVANCE 400(物质区域中心) | Bruker Avance 400 | 液体一维碳谱,液体一维19F 谱,液体一维氢谱 |
322 | X射线衍射装置P1(物质区域中心) | D/max 2500 | 粉末数据收集及数据库查询 |
323 | 液体核磁共振波谱仪 AVANCE 600(纳米区域中心) | Bruker AVANCE 600 | 液体二维低温氢氢相关谱,液体一维低温氢谱,液体一维低温碳谱和杂核谱,液体一维19F 谱,扩散序谱,液体一维氢谱,液体一维碳谱,液体一维杂核谱,液体二维氢氢全相关谱,液体二维NOESY谱,液体二维ROESY谱,液体氢碳直接相关谱,液体氢碳远程相关谱,一维选择性激发谱,液体一维氢谱,液体一维碳谱,液体一维杂核谱,液体二维氢氢相关谱,液体二维氢氢全相关谱,液体二维NOESY谱,液体二维ROESY谱,液体氢碳直接相关谱,液体氢碳远程相关谱,一维选择性激发谱,扩散序谱 |
324 | 固体核磁共振波谱仪 AVANCE III 400(物质区域中心) | AVANCE III 400 | 固体一维氢谱,固体一维碳谱,固体一维碳谱,固体一维杂核谱,固体一维杂核谱,固体一维氢谱,固体一维碳谱,固体一维杂核谱 |